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双晶探头2.5P10 F10 双晶探头2.5P10 F8 双晶探头2.5C10 F8 双晶探头2.5C10 F10 双晶探头2.5P14 F5 双晶探头2.5C14 F5 双晶探头2.5P14 F10 双晶探头2.5C14 F10 双晶探头2.5P14 F15 双晶探头2.5C14 F15 双晶探头2.5P14 F20 双晶探头2.5C14 F20 双晶探头2.5P14 F30 双晶探头2.5C14 F30 双晶探头2.5P20 F5 双晶探头2.5C20 F5 双晶探头2.5P20 F10 双晶探头2.5C20 F10 双晶探头2.5P20 F15 双晶探头2.5C20 F15 双晶探头2.5P20 F20 双晶探头2.5C20 F20 双晶探头2.5P20 F30 双晶探头2.5C20 F30 双晶探头5P6 F5 双晶探头5C6 F5 双晶探头5P6 F8 双晶探头5C6 F8 双晶探头5P8 F5 双晶探头5C8 F5 双晶探头5P8 F8 双晶探头5P8 F8 双晶探头5C8 F8 双晶探头5P8 F10 双晶探头5C8 F10 双晶探头5P10 F5 双晶探头5C10 F5 双晶探头5P10 F8 双晶探头5C10 F8 双晶探头5P10 F10 双晶探头5C10 F10 双晶探头5P14 F5 双晶探头5C14 F5 双晶探头5P14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5P14 F20 双晶探头5C14 F20 双晶探头5P14 F30 双晶探头5P14 F30 双晶探头5C14 F30 进口仪器品牌 国内仪器品牌 促销产品 热卖产品 外销产品 双晶探头1.25P20 F5 双晶探头1.25C20 F5 双晶探头1.25P20 F15 双晶探头2.5P10 F5 双晶探头1.25C20 F15 双晶探头2.5C10 F5
  • LCR3535 LCR测试仪/日置HIOKI
    3535 LCR测试仪 电感、电容、阻抗测试器高速LCR仪,采样率可高至120MHz •100kHz~120MHz的宽频带 •高速LCR测试(6ms/采样) •拆卸式前置放大器可选择 •为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择,为订货的时的固定选件。 (3535与本机不相调的情况下,需要校正)不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头。输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件测量参数|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)前置放大器决定的测量量程前置放大器9700-019700-029700-03Z和R100mΩ~1kΩ500Ω~10kΩ5kΩ~100kΩC1.3**F~15.9μF0.13**F~3.18nF0.1pF~318pFL1nH~1.59mH663nH~15.9mH6.63μH~159mHθ-180.00°~180.00°  测量频率量程100kHz~120MHz分辨率设置4位(使用前控制板设置)100.0kHz~1.000MHz100Hz幅度1.000MHz~10.00MHz1kHz幅度10.00MHz~100.0MHz10kHz幅度100.0MHz~120.0MHz100kHz幅度使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。精度** ± 0.005%,相对于设置值  测量电平开路接口电压(V)和恒压(CV)模式5mV~1V,**20mA(10.000MHz以下)5mV~500mV,**10mA(10.01MHz以上)分辨率1mV幅度精度±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)恒流(CC)模式200μA~20mA,**1V(10.00MHz以下)200μA~10mA,**0.5V(10.01MHz以上)分辨率10A幅度精度±(10%+50μA)× (2+log f)(f为MHz数)  基本精度Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°输出阻抗50Ω ± 10Ω(100kHz时)监视电压 0.000V~1.000V电流 0.000mA~20.0mA限制电压(设置为CC) 0.005V~1.000V电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA平均关,2,4,8,16,32,64触发内置触发器,外置触发器触发延时 0.01s~9.99s;0.01s分辨率比较可得到两组测量参数:百分比,△%,或**值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)控制盘存储和调用*多30组屏幕显示测量值和比较器的判断结果显示线数可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同打印拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)操作环境10~40°C,**80%rh,无凝结仓储环境-10~55°C,**80%rh,无凝结供电电源交流100V~240V,50/60Hz,约50VA体积及重量约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg附件快速测量手册×1,使用说明书×1,电源线×1 
  • IM3532-50 LCR测试仪/日置HIOKI
    LCR测试仪 3532-50 LCR测试仪电感、电容、阻抗测试器搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 •测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 •可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件测量参数│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q测量方法测量源:恒流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz),或恒压10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz) 检测:电压,AC测量频率42Hz~5MHz测量量程│Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定) θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mFL:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S基本精度│Z│: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°测量时间│Z│的典型值快速:5ms~ 慢速2:140ms显示**显示值99999,LCD背光功能比较器功能设定:上、下限值,百分比或**值 输出:3档(高,中,低),开路集电极,绝缘外部打印9442 (与9443/9446/9593-01同时使用)电源供应100~240V AC 50/60Hz体积及重量352宽 x124高 x 323厚mm,6.5kg附件电源线(1),保险丝(1),使用说明书(1) 
  • LCR 3511-50 LCR测试仪/日置HIOKI
    3511-50 LCR测试仪 电感、电容、阻抗测试器精巧,非常专业,5ms快速测量LCR •高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) •高精度: ± 0.08% •内置比较器输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件测量参数│Z│,θ,C,L,D,Q,R测量方法测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC)检测:电压,AC测量频率120Hz或1kHz测量量程│Z│,R:10mΩ~200.00MΩ(视条件而定) θ: -90.00~+90.00 ° C:0.940pF~999.99mF L: 1.600μH~200.00kH,D:0.0001~1.9900 Q: 0.85~999.99基本精度│Z│: ± 0.08%rdg.,θ: ± 0.05 °测量时间快速:5ms~慢速:300ms(1kHz)快速:30ms~慢速:400ms(120Hz)显示**显示值99999, LED显示比较器功能设定:上、下限值,**值 输出:3档(高,中,低),开路集电极,隔离外部打印9442(使用9443/9444)电源供应交流100~240V,50/60Hz(可选择)体积及重量210宽 × 100高 × 168厚mm,2.5kg附件电源线(1),保险丝(1),使用说明书(1) 
  • IM3590化学阻抗分析仪/日置HIOKI
    IM3590化学阻抗分析仪用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容) •适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz ~ 200kHz的宽范围信号源 •1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 •可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 •*快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化 •基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应 •适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量 注:主机不带测试治具。请从选件中选择测试治具和探头。※ RS-232C用连接线可使用普通的对应联锁的交叉线。RS-232C连接线9637仅可在不使用硬件流程控制时使用。测量模式LCR模式,连续测量(LCR/分析),分析模式(频率或电平扫描,温度特性,等价电路分析)测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (导电率), ε (电容率)测量量程100mΩ~100MΩ, 10档量程 (所有参数均由Z规定)显示范围Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε :± (0.000000 [単位]~9.999999G [单位]) 仅Z和Y为**值显示θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.000000~9.999999) Q: ± (0.00~99999.99), Δ%: ± (0.0000%~999.9999%) T: -10.0℃~99.9℃ 基本精度Z: ±0.05% rdg. θ: ±0.03°测量频率1 mHz~200 kHz (1 mHz~10 Hz步进)测量信号电平普通模式:V模式,CV模式:5 mV~5 V rms,1 mV rms步进 CC模式:10 μA~50 mA rms,10 μA rms步进 低阻抗高精度模式:V模式,CV模式:5 mV~2.5 V rms, 1 mV rms步进CC模式:10 μA~100 mA rms, 10 μA rms步进 输出电阻普通模式:100 Ω,低电阻高精度模式:25 Ω显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF测量时间2ms(1kHz,FAST,显示屏OFF,代表值)功能DC偏压测量,直流电阻温度补偿(标准温度换算显示),温度测量,电池测量(自动DC偏压外加方法),BIN测量(分类功能),面板读取·保存,存储功能接口EXT I/O(handler),USB通讯,USB存储选件:可安装RS-232C/GP-IB/LAN其中之一 电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max体积及重量330W × 119H × 168D mm, 3.1 kg附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,使用软件)×1 
  • IM3570元器件测量仪器/日置HIOKI
    IM3570元器件测量仪器阻抗分析仪IM3570元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 •1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 •LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 •基本精度±0.08%的高精度测量 •适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 •分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。 测量模式LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 测量量程100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) 显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示**值θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) 基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°测量频率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)测量信号电平V模式,CV模式(普通模式)50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)CC模式(普通模式)10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)输出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF测量时间0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2其他功能DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN电源AC90~264V,50/60Hz,**150VA打印拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)电源AC90~264V,50/60Hz,**150VA体积和重量330W×119H×307Dmm,5.8kg附件电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1 
  • IM3523 LCR测试仪/日置HIOKI
    LCR测试仪IM3523应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 •基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) •在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 •内置比较器和BIN功能 •2毫秒的快速测试时间 本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。测量模式LCR,连续测试测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:± (0.000000 [单位] ~9.999999G [单位]) 只有 Z和Y显示真有效值θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999)Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°测量频率40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)测量信号电平正常模式V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrmsCC模式: 10μA~50mArms,10μArms输出阻抗正常模式:100Ω显示单色LCD测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)功能比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能接口EXT I/O(处理器),USB通信(高速)选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一电源100~240V AC,50/60Hz,**50VA尺寸及重量260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg附件电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 
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