产品展示分类:
全部
双晶探头2.5P10 F10 双晶探头2.5P10 F8 双晶探头2.5C10 F8 双晶探头2.5C10 F10 双晶探头2.5P14 F5 双晶探头2.5C14 F5 双晶探头2.5P14 F10 双晶探头2.5C14 F10 双晶探头2.5P14 F15 双晶探头2.5C14 F15 双晶探头2.5P14 F20 双晶探头2.5C14 F20 双晶探头2.5P14 F30 双晶探头2.5C14 F30 双晶探头2.5P20 F5 双晶探头2.5C20 F5 双晶探头2.5P20 F10 双晶探头2.5C20 F10 双晶探头2.5P20 F15 双晶探头2.5C20 F15 双晶探头2.5P20 F20 双晶探头2.5C20 F20 双晶探头2.5P20 F30 双晶探头2.5C20 F30 双晶探头5P6 F5 双晶探头5C6 F5 双晶探头5P6 F8 双晶探头5C6 F8 双晶探头5P8 F5 双晶探头5C8 F5 双晶探头5P8 F8 双晶探头5P8 F8 双晶探头5C8 F8 双晶探头5P8 F10 双晶探头5C8 F10 双晶探头5P10 F5 双晶探头5C10 F5 双晶探头5P10 F8 双晶探头5C10 F8 双晶探头5P10 F10 双晶探头5C10 F10 双晶探头5P14 F5 双晶探头5C14 F5 双晶探头5P14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5C14 F10 双晶探头5P14 F20 双晶探头5C14 F20 双晶探头5P14 F30 双晶探头5P14 F30 双晶探头5C14 F30 进口仪器品牌 国内仪器品牌 促销产品 热卖产品 外销产品 双晶探头1.25P20 F5 双晶探头1.25C20 F5 双晶探头1.25P20 F15 双晶探头2.5P10 F5 双晶探头1.25C20 F15 双晶探头2.5C10 F5
  • HIOKI 3390-10功率分析仪/日置HIOKI
    支持能源的转换效率的提高是3390的高精度版本,实现**±0.1%的高精度所有量程统一精度,即便改变量程也保证±0.1%完善马达分析功能(对应电相角测量,矢量控制)高速谐波分析功能(50 ms 数据更新率)变频器干扰分析(FFT功能)通过钳式传感器轻松测量变频器功率※ 3390-10主机无法单独测量。请按照测量目的选购不同的电流传感器和电压线。基本参数测量线单相2线,单相3线,三相3线,三相4线,电压4ch,电流4ch,通道间绝缘测量项目电压 (U), 电流(I), 电压/电流峰值 (Upk/Ipk), 有功功率(P), 无功功率 (Q), 视在功率 (S), 功率因数(λ),相位角 (φ), 频率(f),电流累积(Ih), 功率累积(WP), 效率 (η),电压率/电流纹波率 (Urf/Irf)干扰测量 (FFT 算法处理): 电压/电流的RMS频谱 谐波测量( RMS值,含有率,相位角,总畸变率,不平衡的因素)附加功能(可选9791或9793安装在主机中) :扭矩,转速,频率,转差率,或发动机输出谐波测量输入: 4通道,同步频率范围: 0.5Hz到5kHz , 谐波分析次数:**100以内干扰测量通道数: 1通道 (从CH1到CH4通道中选择1),**分析频率: 100k/ 50k/ 20k/ 10k/ 5k/ 2kHz测量量程电压量程: 15/ 30/ 60/ 150/ 300/ 600/ 1500V电流量程: 当使用20A的额定传感器时... *400m/ *800m/ 2/ 4/ 8/ 20A (*当使用选件9277)当使用200A的额定传感器时... 4/ 8/ 20/ 40/ 80/ 200A当使用50A的额定传感器时... 1/ 2/ 5/ 10/ 20/ 50A当使用500A的额定传感器时.. 10/ 20/ 50/ 100/ 200/ 500A取决于电压和电流组合的范围 (功率范围: 6.0000W以2.2500MW )频率范围: 0.5Hz到5kHz基本精度(45Hz~66Hz)电压: ±0.05% rdg. ±0.05% f.s.电流: ±0.05% rdg. ±0.05% f.s. (和专用电流传感器组合精度)有功功率: ±0.05% rdg. ±0.05% f.s. (和专用电流传感器组合精度)※没有规定3390-10高精度型号和电流传感器高精度型号的分别的精度(高精度)同步频率范围0.5Hz 到 5kHz频段DC, 0.5Hz 到 150kHz数据更新率50ms ( 测量谐波,取决于同步频率小于45Hz时 )显示刷新率200ms (从内部数据更新率中独立,波形,FFT根据画面而定)数据保存时间间隔关, 50m~500ms, 1~30s, 1~60分钟,15档切换外部接口LAN, USB ( 通讯/储存), RS-232C, CF卡, 同步控制电源100 到 240V AC, 50/60Hz, 140VA max.体积 重量340mm 宽 × 170mm 高 × 157mm厚, 4.8kg附件3390说明书× 1 ,3390-10说明书× 1,3390-10测量指南× 1 ,电源线× 1 , USB线× 1 , D - Sub用连接器× 1 ( 仅装备9792或9793时) ,彩色标签× 2
  • MS2301钳形接地电阻测试仪/东莞华仪
    产品名称:MS2301钳形接地电阻测试仪概述:     由于现代工业电气设备已经相当普及,一个好的接地已成为重要的防干扰、防雷击的有效保护系统。所以,安全、快速的接地测量方式也已成为迫切需要。钳型接地电阻仪为传统接地电阻测量的一大突破,测量时不必使用辅助接地棒,也不需中断待测设备的接地,只需钳夹住接地线或棒,就能安全、快速测量出对地电阻。  另外,该产品还能作电流测量,其高感度的钳表能测量泄漏电流至1mA,而中性电流可至20A RMS。此功能在当待测量接地回路含有会影响电力品质的较大杂讯及谐波时,显得尤为重要。  该产品除了用于工业电气设备外,还在电力配电、电信系统配置、建筑接地等领域有着广泛应用。特点:· 0.01Ω低电阻高精度测量· 0.001Ω高分辨率· 可储存电阻测量数据99组· 可在1Ω∽100Ω范围内设置报警值· 可测量泄漏电流和中性线电流· 大口径45×32mm 精密测量探头,椭圆形钳口,可测量扁铁接地。· 数字测量、自动换档、操作方便· 钳表头具有双层保护绝缘,强化了抗干扰性· 非接触式测量,提高了测量安全· 单次测量时间1秒,体现了测量快速性· 具有电池极限报警功能· 显 示 器:LCD 3 3/4 digits· 钳头口径:32mm X 45mm· 电流过载显示:大于20A RMS时,“OL”显示技术参数:功能档位精度分辨率电阻测量0.01Ω~0.999Ω±(1.5%+0.01Ω)0.001Ω1Ω~9.99Ω±(1.5%+0.1Ω)0.01Ω10Ω~99.9Ω±(2.0%+0.3Ω)0.1Ω100Ω~199.9Ω±(3.0%+1Ω)1Ω200Ω~400Ω±(6.0%+5Ω)5Ω400Ω~600Ω±(10%+10Ω)10Ω600Ω~1200Ω±(20%+20Ω)20Ω电流测量100MA±(2.5%+1MA)0.1MA300MA±(2.5%+2MA)0.3MA1A±(2.5%+0.003A)0.001A3A±(2.5%+0.01A)0.003A10A±(2.5%+0.03A)0.01A20A±(2.5%+0.0**)0.03A测试条件:温度23°C±3°C湿度50%RH±10%电池电源:>7V外部磁场:外部电场:电流测试频率:45Hz~65Hz电源:Ni-MH 600mAh 1.2x6AAA尺寸:54mmx104mmx278mm重量:1050g安全等级:CE ETL CAT.III300V 
    ¥2800
  • 产品名称
    产品描述
  • 5C20 F10双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P20 F10双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5C20 F5双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P20 F5双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5C14 F30双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P14 F30双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 双晶探头5C14 F20
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P14 F20双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5C14 F15双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P14 F15双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5C14 F10双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5C14 F10双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
  • 5P14 F10双晶探头
    双晶探头装有两个晶片的探头,一个作为发射器,另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探 头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。频率(MHz)晶片尺寸(mm)型号焦距插座P型C型1.25201.25P20 F51.25C20 F55Q6(双)1.25P20 F151.25C20 F15152.5102.5P10 F52.5C10 F552.5P10 F82.5C10 F882.5P10 F102.5C10 F1010142.5P14 F52.5C14 F552.5P14 F102.5C14 F10102.5P14 F152.5C14 F15152.5P14 F202.5C14 F20202.5P14 F302.5C14 F3030202.5P20 F52.5C20 F552.5P20 F102.5C20 F10102.5P20 F152.5C20 F15152.5P20 F202.5C20 F20202.5P20 F302.5C20 F3030565P6 F55C6 F555P6 F85C6 F8885P8 F55C8 F555P8 F85C8 F885P8 F105C8 F1010105P10 F55C10 F555P10 F85C10 F885P10 F105C10 F1010145P14 F55C14 F555P14 F105C14 F10105P14 F155C14 F15155P14 F205C14 F20205P14 F305C14 F3030205P20 F55C20 F555P20 F105C20 F10105P20 F155C20 F15155P20 F205C20 F20205P20 F305C20 F3030插座为电气接口,通过探头线连接到仪器上去。铝合金外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽的作用。超声波声束的发射由发射晶片完成。接收晶片将工件中反射回来的声束转换成电信号。发射晶片和接收晶片之间,贴合有隔声层。晶片被粘结在延迟块上,改变两个延迟块之间的夹角,可获得不同的焦距值。提高近表面缺陷检出能力。减少在粗晶或散射材料中的散射噪声,提高检测信噪比。在粗糙或弯曲的检测面上耦合效果好。两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。应用范围:“P”通用型系列:用于需要高灵敏度与穿透力的通用检测场合。“C”压电复合材料系列:具有高灵敏度,高带宽,高分辨力以及穿透力强的特点,用于粗晶、高衰减材料检测时,可获得非常好的检测效果
在线客服
021-31262189
周一至周五:9:00-18:00
  • 电话咨询
  • 13564692018
  • 021-31262189
  • 021-31262163
  • 021-67879783