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国内仪器品牌 > 同惠仪器 > LCR数字电桥 > TH2825A型高速LCR数字电桥

TH2825A型高速LCR数字电桥

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商品详情

TH282**型高速LCR数字电桥

性能特点

 超高速测量:15ms(测试频率≥100Hz时)

■ 大型LCD(240×64点阵)显示

 人性化引导式操作界面

 50Hz-100kHz, 10个典型测试频率

 10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平

 内部DC偏流源**可达200mA(使用25Ω内阻)

 精确的负载校准功能

 4种可选源阻抗模式,便于兼容不同LCR表的测试一致性

 4点频率/电平/偏流列表扫描功能

 变压器参数测量能力

 12组内部仪器设定储存

 内建9档比较器,分选及档计数

 具有良品/不良品(Hi/Go/Low)警示声响判定功能

 测试电平V/I监视功能

 与Agilent 4263B兼容的Handler接口

 与Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令

简要介绍

TH282**型高速LCR数字电桥是本公司重点推出的新一代元件参数测试仪器。该产品可提供高达15ms/次的测量速度、50Hz100kHz十点测试频率、以1mV步进的0.01V-1.0V可编程信号电平、5位读数分辨率、多种源内阻选择和强大的测试功能,可满足生产线质量保证、进货检验及元件设计和评估的测量要求。

高速测量

本产品运用了元件测试领域的**技术,测试能力可达到甚至超越Agilent4363B的水平,提供了****的**测量速度15ms/次,尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题,为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。

多种可选的信号源阻抗模式

不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果,TH282**提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要,保证不同仪表间测试结果的一致性。

恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量

陶瓷电容器(MLCC)对测试信号电平极为敏感,TH282**能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器,允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试,100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号。

强大的变压器测试能力

TH282**具备变压器测试能力,使用专门的变压器测试夹具,无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比(N,1/N)、互感(M)、初次级电感(LA、LB),初次级直流电阻(DCR2)。有-5V-5V偏置电压(仅TH282**),可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。

该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent

与知名仪表的接口兼容性

技术参数

型号

TH282**

显示器

240x64点阵LCD显示器,5位读数分辨率

测试参数

LCR参数

|Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR

变压器参数

DCR,DCR2,M,N,1/N,LA,LB

测试频率

50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10点

测试电平

10mVrms-1.0Vrms,1mV步进<200mV10mV步进≥200mV

信号源内阻

25Ω,100Ω,25Ω/100Ω,C.V.(恒压)

DC偏置电流(≥1kHz)

当100Ω内阻时,±50mAMax当25Ω内阻时,±200mAMax

基本测量准确度

0.1%


|Z|,R,X

0.01mΩ—99.99MΩ


G,B

0.0001μS—999.99S


C

0.001pF—1.9999F


L

0.001μH—99.9999kH


Q

0.0001—9999

显示范围

D

0.0001—9999

θ(DEG)

-180.00°—180.00°


θ(RAD)

-3.1415—3.1415


Δ%

-999.99%—999.99%


TurnsRatio

0.001—9999.9


DCR

0.1mΩ—99.99MΩ


M,L2

0.001μH—99.99kH

测量速度(≥100Hz)

快速:15ms(注1),中速:66ms,慢速:500ms

等效电路

串联,并联

量程方式

自动,保持/手动切换

触发方式

内部,手动,外部,总线

平均次数

1—255

校准功能

开路,短路,负载校正

测量端

5

显示方式

直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示),档号及档计数

列表扫描

4点频率,电平列表扫描测试

比较器功能

九档(八档合格,一档不合格)

上超/合格/下超比较器

存储器

12组内部仪器设定供存储/调用

接口

RS-232C,HANDLER,GPIB(选件)


4263B完全兼容,为与4263B的互换提供了良好的条件。


注1:快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示,最快测试时间另加5ms。


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